MANY MICRO快恢复二极管应用主要是看正向回府过程的影响以及反向恢复过程的影响。那么，这两者有具体是怎样的呢？
正向恢复过程的影响
1.二极管的正向恢复过程常常被忽视。在下图中作为缓冲二极管使用时，若UFP过大使VDs不能迅速导通，则缓冲电路就失去了作用。
2.由于耐压较高的二极管比耐压较低的二极管正向UFP高、tFP也长，因此在低压高频整流电路中，尽可能使用低耐压的二极管，以避免过长正向恢复过程限制了电路的输出。
反向恢复过程的影响
1.高频整流电路中，在反向恢复时间内二极管反向导通会造成有负电压波形输出，这使整流输出电压平均值下降。例如在工作频率为20kHz的整流电路中，使用trr为5µs的二极管，则会使输出电压平均值下降约10%。
2.在带感性负载的半桥电路中，续流二极管的反向恢复电流会流过刚开通的开关器件(如IGBT)，造成大的反向恢复浪涌电流。续流二极管的硬恢复又会使与之并联的开关器件承受大的关断浪涌电压。因此应选用trr小，又有一定软度的所谓软快恢复二极管作高频开关的续流二极管。在三菱U系列IGBT中就使用了软快恢复二极管续流。
3.二极管串联使用时，其反向阻断时的动态均压基本上取决于反向恢复特性(Irr、Qrr和trr的一致性。必须采用各个二极管并联电容器等动态均压措施，否则因trr小而先恢复的二极管瞬间将承受串联总电压。
4.即使是快恢复二极管，其恢复期间造成的功率损耗也不应被忽略，在不同电路中损耗大小不同，但计算二极管总损耗时都应予以考虑。